eATE緊湊型可移動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

eATE數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)是加速科技新推出的一款集成數(shù)字集成電路測(cè)試功能的緊湊型可移動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)支持50Mbps數(shù)據(jù)速率;業(yè)務(wù)功能板卡采用all-in-one設(shè)計(jì)模式，功能集成度高，體積小巧、簡(jiǎn)潔輕便，性價(jià)比高，是小型芯片驗(yàn)證的選擇。軟件系統(tǒng)搭載ST-IDE集成軟件，配備開發(fā)與工廠GUI 環(huán)境，支持完整的開發(fā)驗(yàn)證與量產(chǎn)導(dǎo)入工具集。且開發(fā)環(huán)境編程邏輯充分考慮融入芯片測(cè)試?yán)碚撝R(shí)，清晰易懂，便于快速學(xué)習(xí)應(yīng)用。

應(yīng)用場(chǎng)景

為解決高校集成電路測(cè)試方向人才培養(yǎng)缺乏產(chǎn)業(yè)級(jí)實(shí)訓(xùn)環(huán)境、優(yōu)良技術(shù)、教材、課程等難題，加速科技將自主技術(shù)和行業(yè)資源轉(zhuǎn)化為豐富教育資源。
eATE數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)主要應(yīng)用于MCU微型控制類、PMIC電源類、LDO線性穩(wěn)壓器類、EEPORM存儲(chǔ)器類、AD/DA模數(shù)/數(shù)模類、OP-AMP運(yùn)放類等芯片級(jí)測(cè)試。

eATE數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)

目標(biāo)器件

• MCU

• PMIC

• LDO

• EEPORM