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  • 是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
    是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)

    是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng),開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列的配置支持所有的設(shè)備類型和測試參數(shù)。

    更新日期:2025-05-26型號:訪問量:394
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  • Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀
    Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀

    Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀是精密電流-電壓分析儀系列的一款一體化分析儀,支持 IV、CV、脈沖/動(dòng)態(tài) IV 等功能,專為從基礎(chǔ)到應(yīng)用的表征而設(shè)計(jì)。它提供廣泛的測量功能,涵蓋器件、材料、半導(dǎo)體、有源/無源元件或幾乎任何其他類型的電子設(shè)備的電氣特性和評估,具有測量可靠性和效率。

    更新日期:2025-05-08型號:訪問量:521
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  • QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測試機(jī)
    QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測試機(jī)

    QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測試機(jī) 實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測試過程,滿足不同器件測試對測試機(jī)的要求。 本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測試解決方案,可高效實(shí)現(xiàn)從晶圓級到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測試,實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測試過程,并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇,滿足不同器件測試對測試機(jī)的要求。

    更新日期:2024-01-29型號:訪問量:1610
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  • ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)
    ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)

    ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng),系統(tǒng)IV曲線自動(dòng)生成,也可根據(jù)實(shí)際需求設(shè)置功能測試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。

    更新日期:2025-09-25型號:訪問量:2307
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  • Flex10K-L國產(chǎn)高通道LCD Driver測試機(jī)
    Flex10K-L國產(chǎn)高通道LCD Driver測試機(jī)

    Flex10K-L國產(chǎn)高通道LCD Driver測試機(jī)主要應(yīng)用于各類顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試,整機(jī)包含MF機(jī)柜和TH機(jī)頭,TH最高支持31槽位,支持DFB、LPB、LPP、RVS、CBIT、HSIF等資源板卡。該系統(tǒng)采用優(yōu)良的設(shè)計(jì)架構(gòu),具有良好的測試性能和量產(chǎn)測試能力,可以有效地降低高分辨率屏顯驅(qū)動(dòng)芯片的測試成本。

    更新日期:2025-09-25型號:訪問量:1284
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  • ST2500EX高性能數(shù)模混合信號測試機(jī)
    ST2500EX高性能數(shù)模混合信號測試機(jī)

    ST2500EX高性能數(shù)模混合信號測試機(jī),支持1024數(shù)字通道配置。該系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式,可以兼容J Type針卡,降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性,可搭載無線綜測儀、RF測試模塊及各類高性價(jià)比解決方案。

    更新日期:2025-09-25型號:訪問量:1257
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  • ST2500E高密度數(shù)模混合信號測試機(jī)
    ST2500E高密度數(shù)模混合信號測試機(jī)

    ST2500E高密度數(shù)模混合信號測試機(jī)廣泛應(yīng)用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導(dǎo)體晶圓、器件測試和模塊系統(tǒng)級測試。

    更新日期:2025-09-25型號:訪問量:1037
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  • ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)
    ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

    ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)。被測器件引腳接觸自動(dòng)判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試工裝,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電 纜長度引起的壓降,保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

    更新日期:2025-09-25型號:訪問量:1221
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