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ENJ2005-B半導體分立器件測試系統，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。
ENJ2010 IGBT便攜式半導體靜態參數測試儀，是一種全新的功率半導體器件參數測試儀器，可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態參數的測試。儀器與配套電腦連接使用，通過友好人機界面操作，便于各 測試參數的組合、數據結果以表格形式呈現，具有使用便捷、測試精度高等優點，適合于各測試器件使用現場及產線維護場合使用。
STS8203S半導體分立器件測試系統北京華峰測控技術股份有限公司在全新一代測試系統STS8200測試平臺上開發的系列測試產品之一。本系統可用于各類二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類分立器件的功能和交參數測試。
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