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蔡司GeminiSEM 460掃描電鏡專為應對要求嚴苛的分析任務設計，可實現高效分析和自動化的工作流程。在面對顯微鏡領域充滿挑戰的分析任務時，其Gemini 2鏡筒能夠助您一臂之力，成像與分析條件可無縫切換。

蔡司Sigma 360場發射掃描電子顯微鏡是一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測試平臺的理想之選。從設置到獲取基于人工智能的結果，均提供專業向導，為您保駕護航，助您探索直觀的成像工作流。

蔡司GeminiSEM 560掃描電鏡全面提升了表面靈敏度、無畸變、高分辨率成像的標準，能夠在低于1 kV的條件下輕松成像。還引入了Gemini 3鏡筒及全新的電子光學引擎Smart Autopilot，能在任何工作條件下達到該系列的高分辨率。

蔡司GeminiSEM 360是用于您分析測試平臺的理想設備，為材料和生命科學、工業領域提供了良好的功能性。憑借其Gemini 1電子光學鏡筒，GeminiSEM 360可為各種應用和樣品類型提供高分辨率成像及分析。

蔡司MultiSEM 706超高速掃描電子顯微鏡，充分運用91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款獨特的掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續、可靠的運行。只需簡單設置高通量數據采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

蔡司Volutome掃描電子顯微鏡超薄切片機覆蓋了圖像處理、圖像分割和可視化過程，是一款包含軟硬件的端到端解決方案。傳統的SEM載物臺可輕松替換超薄切片機，將您的三維FE-SEM轉換為標準的多功能FE-SEM，使您的系統能夠適應多功能環境。

蔡司EVO系列高性能掃描電子顯微鏡，為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗。憑借豐富的選件，無論是在生命科學、材料科學，或是在日常工業質量保證和失效分析領域，EVO均可根據您的需求量身定制。

蔡司Sigma 560場發射掃描電子顯微鏡采用EDS幾何學設計，可提供高通量分析，實現自動原位實驗。通過對納米級別的特征進行三維分析進一步擴展您的工作流：執行三維STEM斷層成像或基于人工智能的圖像分割。